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DR-H308PCT高壓蒸煮老化試驗箱依據(jù)GB/T 41203光伏組件封裝材料加速老化試驗方法設計生產(chǎn),適用于光伏組件用玻璃、封裝膠膜、背板,其他光伏組件封裝材料參照使用。將試樣放入高壓蒸煮老化試驗箱,試驗條件如下∶試驗溫度121℃,相對濕度100%,光伏組件用玻璃試驗時間宜為24h、48h、72h;封裝膠膜推薦試驗時間為24h、48h、72h;光伏背板試驗時間宜為24h、48h。關閉箱門,運行
HAST半導體器件強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗箱是根據(jù)GB/T 4937.4半導體器件機械和氣候試驗方法 第4部分∶強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(HAST)設計研發(fā)的一款設備,通過施加嚴酷的溫度、濕度和偏置條件來加速潮氣穿透外部保護材料(灌封或密封)或外部保護材料和金屬導體的交接面,來評價非氣密封裝半導體器件在潮濕的環(huán)境下的可靠性。
強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗箱(HAST)是根據(jù)GB/T 4937.4半導體器件機械和氣候試驗方法 第4部分∶強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(HAST)設計研發(fā)的一款設備,通過施加嚴酷的溫度、濕度和偏置條件來加速潮氣穿透外部保護材料(灌封或密封)或外部保護材料和金屬導體的交接面,來評價非氣密封裝半導體器件在潮濕的環(huán)境下的可靠性。
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