GB/T5170《環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法》主要適用于GB/T 2423《環(huán)境試驗  第2部分∶試驗方法》部分標準所用試驗設(shè)備和類似試驗方法標準所用試驗設(shè)備的檢驗，目的是確認試驗設(shè)備是否符合試驗方法的要求。

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GB/T 5170.1-2016電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第1部分：總則

GB/T 5170.2-2017環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第2部分：溫度試驗設(shè)備

GB/T 5170.5-2016電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第5部分：濕熱試驗設(shè)備

GB/T 5170.8-2017環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第8部分：鹽霧試驗設(shè)備

GB/T 5170.9-2017環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第9部分：太陽輻射試驗設(shè)備

GB/T 5170.10-2017環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第10部分：高低溫低氣壓試驗設(shè)備

GB/T 5170.11-2017環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第11部分：腐蝕氣體試驗設(shè)備

GB/T 5170.13-2018環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第13部分：振動(正弦)試驗用機械式振動系統(tǒng)

GB/T 5170.14-2009環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法 振動（正弦）試驗用電動振動臺

GB/T 5170.15-2018環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第15部分：振動(正弦)試驗用液壓式振動系統(tǒng)

GB/T 5170.16-2018環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第16部分：穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離心機

GB/T 5170.17-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備

GB/T 5170.18-2022環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第18部分：溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備

GB/T 5170.19-2018環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第19部分：溫度、振動(正弦)綜合試驗設(shè)備

GB/T 5170.20-2022環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 第20部分：水試驗設(shè)備

GB/T 5170.21-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢驗方法 振動(隨機)試驗用液壓振動臺